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Basic款光斑分析仪
Basic系列光束质量分析仪，产品类型丰富，功能全面。适用于340~1100nm光谱范围内的光束测量要求，可测量从nW到1W的不同强度激光。
Basic款光斑分析仪是引领光学研发生产的基本款系列产品。该系统普适性强，长波红外范围内激光器检测表现优异。该系列所采用相机灵敏度高，集成的快门可以进行全自动的非均匀性校正。搭配lasescopeNX软件可用于光束实时监测 、测量激光光斑尺寸、质心位置、椭圆度、相对功率测量、光束指向稳定性、功率稳定性、2D/3D能量分布、发散角测量等，同步支持多光斑测量，支持测量数据、测量报告导出，满足日常激光参数测量需求。
产品特点
- 标配支架底座，结构紧凑，使用方便
- 支持手动/自动实时曝光及增益调节
- 多种类型激光器均可测量
- 340nm~1150nm宽光谱响应，可拓展紫外检测
- 更小像元尺寸：低至1.67μm
- 接口类型可选：高速USB3.0/GigE 不同产品标配
- 软件功能强大，性价比俱佳
应用场景
光束质量分析仪的应用领域广泛，涵盖激光加工、光通信、生物医学、光学成像等多个方面。
- 激光加工：在激光切割、焊接等加工过程中，能够实时监测光束质量，优化加工参数，提高加工精度和效率。
- 光通信：在光纤通信系统中，用于评估光纤、光放大器等器件的光束质量，确保通信信号的传输效率和质量。
- 生物医学：在医学和生物技术领域，用于光镊、细胞分拣等应用中，对激光光束进行整形和调整，以实现精确操作。
- 光学成像：对光学成像系统的分辨率和对比度有重要影响，可用于镜头质检、光学系统调试等方面。
参数表
尺寸图
- 标配磁吸衰减器OD0.5/1.0/2.0/3.0。
- 标配光学支架（手动升降）。
- 依据所选型号的检测波段，可选配C口衰减器及拓展紫外测量功能，增加机械组件应对复制的工况环境。
Lasescope NX是引领光学定制研发的一款用于Windows 系统的激光光束分析专门算法软件，算法精准、功能强大。在准确获取光斑的尺寸位置、光斑大小形貌的同时，可以在设备加工时调整激光加工的准确位置。
软件环境：Windows 10/11，64位，预装MS Office或者WPS
硬件配置：≥8G内存，CPU主频≥2.5G，内核≥4，建议i5及以上同等型号，最佳显示分辨率1920*1080
光斑形貌
光路指向性
精度检测
BPP因子
多光斑检测
